导波检测
导波检测通常使用10kHz到几MHz范围内的超声波频率，但有时也可以使用更高的频率，但检测范围会显着降低。导波的基础物理学比体波更复杂，许多理论背景已在另一篇文章中讨论过。
导波检测可以预测波模式的特性，通常依赖于大量的数学建模，通常以称为色散曲线的图形表示。在管道的导波检测中，低频换能器阵列连接在管道的圆周上，以产生轴向对称的波，该波沿管道在换能器阵列的前向和后向传播。扭波模式是很常用的，尽管纵向模式的使用有限。
总之，导波检测是一种非常有用的无损检测方法，可以广泛应用于各个领域。
磁致伸缩导波介绍
磁致伸缩导波模式常用于普立克传感器，它是一种基于可调膜结构和可调磁场的传感器技术。这种技术首先利用磁域激发薄膜结构，在晶体表面上形成引力中心，磁场分布于晶体表面内部，然后再用磁场来调节引力中心，从而改变薄膜的结构，改变晶体的表面的角度。这种调节机制，不仅使薄膜的形状改变，而且可以改变晶体的物理参数，如膜厚、表面形状和弯曲率。 磁致伸缩导波模式的传感器还可以用于对非晶体表面，如金属表面或石墨表面，进行测量。可以根据膜层的特殊性质，调节膜层折射率，从而检测反射率变化等特征参量，从而得出不同物相间对应的参数值。 通过磁致伸缩导波模式控制的传感器，可以大大增强对晶体表面形状、膜厚和石墨表面反射率的准确控制。它的优势在于，它的形状和参数可以随时间改变，可以改变晶体表面的结构参数。因此，磁致伸缩导波模式控制的传感器可以极大地提升对薄膜的检测准确性和可靠性，提供可靠的实验数据。
磁致伸缩导波技术有哪些发展历程？
磁致伸缩导波技术从发现到现在的应用，经历了漫长的发展历程。
1842年，科学家James Prescott Joule发现了磁致伸缩效应。这一发现为磁致伸缩导波技术的产生奠定了基础。
1940年，磁致伸缩技术成功应用于潜艇声纳测距系统，这是磁致伸缩导波技术头次在声纳领域得到应用。
1960年，美国人Jack Tellerman向美国申请了磁致伸缩位移传感器。这一发明标志着磁致伸缩导波技术进入了新的阶段，并开始在工业领域得到应用。
进入21世纪，磁致伸缩导波技术得到了更广泛的应用，如用于非接触位移、液位、转速等测量。随着科技的发展，磁致伸缩导波技术的性能和精度也不断提高，成为了一种重要的无损检测技术。